XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的紫外光譜儀。檢測器采用濱松面陣背照式CCD， 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態范圍。可以廣泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領域。 XV400在0-40度，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。
更新時間：2022-06-18
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| 品牌 | 自營品牌 | 動態范圍 | 1200：1 |
|---|---|---|---|
| 信噪比 | 450:1 | 分辨率 | <1.0nm@25μm slitnm |
| 靈敏度 | <2% | 光譜范圍 | 紫外,180nm-430nmnm |
| 價格區間 | 面議 | 光譜范圍 | 紫外,180nm-430nmnm |
| 按探測器 | CCD | 應用領域 | 醫療衛生,環保,生物產業 |
XV400廣泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測，光學檢測和材料檢測等領域，是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。XV400在 0-40℃，光譜波長偏移< 0.1nm，具備良好熱穩定性，能夠應用于定性、定量檢測場景。檢測器采用濱松面陣背照式 CCD，75%的量子效率和 16-bit A/D 采樣為光譜儀提供高信噪比和大的動態范圍。
產品外觀及結構圖
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圖1 XV400正面圖 | 圖2 XV400側面圖 |
產品特點
響應強度大：在檢測物質時光譜響應強度大；
分辨率高：分辨率<1.0nm@25μmslit；
良好的熱穩定性：光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%。
產品參數
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